靜電是時時刻刻到處存在的，但是在二十世紀(jì)40-50年代很少有靜電問題，因為那時是晶體三級管和二極管，而所產(chǎn)生的靜電也不如現(xiàn)在普遍存在。在60年代，隨著對靜電非常敏感的MOS器件的出現(xiàn)，靜電問題日漸明顯，到70年代靜電問題越來越嚴(yán)重。80-90年代，隨著集成電路的密度越來越大，一方面其二氧化硅膜的厚度越來越薄（微米一納米），其承受的靜電電壓越來越低，另一方面，產(chǎn)生和積累靜電的材料如塑料，橡膠等大量使用，使得靜電越來越普遍存在。

  在生產(chǎn)過程中，如果元件全部破壞，必能在生產(chǎn)及品管中被察覺而排除，影響較小。如果元件輕微受損，在正常測試下不易發(fā)現(xiàn)，在這種情形下，常會因經(jīng)過多層的加工，甚至已在使用時，才發(fā)現(xiàn)破壞，不但檢查不易，而且其損失亦難以預(yù)測。要耗費很多人力及財力才能清查出所有問題，而且如果在使用時才察覺故障，其損失可能巨大。

以下是靜電對電子產(chǎn)品損害的四個特點：

1、隱蔽性

人體不能直接感知靜電,除非發(fā)生靜電放電，但是發(fā)生靜電放電人體也不一定能有電擊的感覺，這是因為人體感知的靜電具有隱蔽性。

2、潛在性

　　有些電子元器件受到靜電損傷后的性能沒有明顯有下降，但多次累加放電會給元器件造成內(nèi)傷而形成隱患。因此靜電對器件的損傷具有潛在性。

3、隨機(jī)性

　  電子元器件什么情況下會遭受靜電破壞呢？可以這么說，從一個元器件產(chǎn)生以后，一直到它損壞以前，所有的過程都受到靜電的威脅，而這些靜電的產(chǎn)生也具有隨機(jī)性。

4、復(fù)雜性

靜電放電損傷的失效分析工作，因電子產(chǎn)品的精、細(xì)、微小的結(jié)構(gòu)特點而費時、費事、費錢，要求較高的技術(shù)并往往需要使用掃描電鏡等高精密儀器。即使如此，有些靜電損傷現(xiàn)象也難以與其他原因造成的損傷失效當(dāng)作其他失效。這在對靜電放電損害未充分認(rèn)識之前，常常歸因于早期失效或情況不明的失效，從而不自覺地掩蓋了失效的真正原因。所以靜電對電子器件損傷的分析具有復(fù)雜性。